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TESTRAM发布低频RFID综合测试仪--T8200LF

TESTRAM近日发布了适用于低频RFID产品测试的RFID综合测试仪:T8200LF.

低频RFID综合测试仪T8200LF是针对近场非接触式IC卡、天线、 IC标签的共振频率,Q值等进行检测,根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。

检测频率:  30KHz  ~ 300KHz

测定项目:  不同的制品,通过制作对应的检测天线,可以检查各式制品

○ 频率

○ 衰减量

○ Q值  

通过设定各个待测项目的设定值进行检测,并可以通过保存测量特性波形及测定值,管理RFID产品的品质。

文章来源:http://www.riseray.com/te_news_media/2015-11-29/12361.chtml