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2014年瑞徽电子创新论坛

瑞徽电子2014创新论坛将于2014年8月11日在上海举行，论坛为您提供RFID电子标签测试、金相分析、密度测量、硬度测量等技术研讨会！

课 程 时 间 课 程 安 排
08:30 ～ 09:00 签到
09:00 ～ 09:20 开幕致辞
09:20 ～ 09:50 RFID电子标签测试介绍
09:50 ～ 10:50 材料环境腐蚀与老化试验概述
10:50 ～ 11:20 茶歇/产品演示
11:20 ～ 12:30 电子产品可靠性设计与试验技术
12:30 ～ 13:30 午餐
13:30 ～ 14:00 电力电缆故障分析与检测技术介绍
14:00 ～ 14:30 光通讯系统性能特点
14:30 ～ 15:00 茶歇/产品演示
15:00 ～ 15:30 硬度测量
15:30 ～ 16:00 金相分析介绍
16:00 ～ 16:30 抽奖/结束

如果你想参加本次创新论坛，请发送邮件至service@riseray.com

文章来源：http://www.riseray.com/te_news_media/2014-05-19/10561.chtml